原子間力顕微鏡のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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原子間力顕微鏡(針 交換) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年09月24日~2025年10月21日
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原子間力顕微鏡の製品一覧

1~7 件を表示 / 全 7 件

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原子間力顕微鏡 「ハンディAFM」

何処にでも連れて行ける奥行き幅、共に15cmの超小型AFM

原子間力顕微鏡「ハンディAFM」は、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、その交換も、瞬時に行えます。プローブの交換も数秒です、交換後の調整は全く必要有りません。また、カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能です。スキャンに電磁スキャナー(特許取得済み)を使用することにより、スキャン時にワークを移動させることが有りません。一般にAFMで使用されているピエゾの持つ、非線形クリープ、経年変化は有りません。オプションで、小型の自動ステージとの組み合わせも可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 電子顕微鏡

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原子間力顕微鏡『ハンディAFM』

圧倒的な分解能を実現!今まで隠れていた微少な現象を測定

『ハンディAFM』は、SEMや高倍率の3次元光学顕微鏡の変わりに使用 することができる原子間力顕微鏡です。 サイズは、奥行き幅共に15cmの超小型。 走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、交換も瞬時に 行えます。 【特長】 ■プローブの交換が数秒で実施可能 ■カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能 ■オプションで小型の自動ステージやインライン全自動機に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他計測・記録・測定器

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原子間力顕微鏡 「ステージ付AFM」

非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡

原子間力顕微鏡「ステージ付AFM」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価なAFM装置と同等の機能を有します。測定ワークの材質に関係無く、導体から絶縁体迄、コーティング無しで、ナノレベルの測定が直ぐに可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

  • 電子顕微鏡

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200mm大型試料対応AFM/SPM Jupiter XR

非常に優れた分解能、スピード、操作性、柔軟性を備えた、大型サンプル対応ステージ型 AFM/SPM(原子間力顕微鏡)

Jupiter XR 原子間力顕微鏡は、スキャナを交換することなく、単一スキャナで「超高分解能」「高速イメージング」「広域スキャン」に対応した業界初の大型試料対応AFM/SPMです。試料ステージは200 mm試料全域へのアクセスを可能にし、Cypher AFM (2007年発売) で培われた卓越した基本設計と操作性、さらに光熱励振 『blueDrive』を踏襲しました。分析分野や産業R&D・学術研究分野など、多様なサンプル・アプリケーションが要求される用途において、高いレベルでバランスの取れたJupiter XRは最良の選択です。

  • マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

『Park NX-Hivac』は、故障解析および環境の影響を受けやすい材料向けの 高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構とレーザーアライメント機構 ■マルチサンプルチャック ■Park独自の容易なチップ交換機能 ■大型真空チャンバー(300mm×420mm×320mm) ■超長距離観察を実現した直上光学顕微鏡 ■感度が向上された高真空SSRMモード ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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原子間力顕微鏡(AFM)

研究用から生産現場向けまで、大小様々なシステムのカスタマイズ提案が可能な原子間力顕微鏡(AFM)のご紹介

当社では、ユーザーフレンドリーな操作性に対応し、表面形状の測定を 簡単かつ短時間で行える『原子間力顕微鏡(AFM)』を取り扱っています。 アクティブ防振機構を搭載し、多彩な測定モードに対応した「CoreAFM」や、 専用ツールの使用によりカンチレバーの交換がスムーズに行える コンパクト設計の「NaioAFM」などのモデルをラインアップ。 研究現場向けの小型仕様から、生産現場向けの大型ステージ仕様、 品質管理用の自動化システムといったカスタマイズ対応が可能です。 【ラインアップ(抜粋)】 ◎卓上型原子間力顕微鏡「CoreAFM」  ■アクティブ防振機構・風防を採用  ■32種類の測定オプションを搭載可能 ◎小型原子間力顕微鏡「NaioAFM」  ■コントローラ、XYステージ・風防・防振機構が一体化  ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載 ※当社が取り扱う走査型プローブ顕微鏡をまとめたカタログを配布中。  詳しい内容は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。

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  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中

表面形状の測定を短時間・簡潔に!防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭載

『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、 装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、 機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。 スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、 サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、 サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載・場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加が可能 ■お客様先に装置を持参してのデモも受付中 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。  デモをご希望の方はお問い合わせフォームよりお申込み下さい。

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